单晶少子寿/命测试仪 型号:THZ24-LT-2库号：M408359  

测试单晶电阻率范围  >2Ω.cm

可测单晶少子寿/命范围  5μS～7000μS

配备光源类型  波长：1.09μm；余辉<1 μS；

闪光频率为：20～30次／秒；

振荡源  用石英谐振器，振荡频率：30MHz

前置器  倍数约25，频宽2 Hz-1 MHz

仪器测量重复误差  <±20％

测量方式  采用对标/准曲线读数方式

仪器功率  <25W

仪器工作条件  温度： 10-35℃、 湿度 < 80％、使用电源：AC 220V，50Hz

可测单晶尺寸  断面竖测：φ25mm—150mm； L 2mm—500mm；

纵向卧测：φ25mm—150mm； L 50mm—800mm；

配用示波器  频宽0—20MHz；

电压灵/敏：10mV／cm；